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15 relazioni: Fluorescenza X, Lingua inglese, Raggi X, Spettrofotometria XRF, Spettroscopia, Spettroscopia Auger, Spettroscopia di assorbimento, Spettroscopia di emissione, Spettroscopia di fluorescenza, Spettroscopia EDX, Spettroscopia EXAFS, Spettroscopia fotoelettronica a raggi X, Spettroscopia NEXAFS, Spettroscopia XANES, Spettroscopia XAS.
Fluorescenza X
La fluorescenza di raggi X (in inglese X-ray fluorescence) è un fenomeno di fluorescenza nella regione dello spettro elettromagnetico dei raggi X. Una transizione elettronica provoca l'emissione di raggi X con una specifica frequenza e, di conseguenza, energia uguale alla differenza tra i valori energetici del livello iniziale e finale: Nella formula \nu è la frequenza emessa; E_i indica il valore energetico del livello iniziale (da cui l'elettrone si allontana per colmare la lacuna sottostante); E_f indica il valore energetico del livello finale, d'arrivo; h è la costante di Planck.
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Lingua inglese
L'inglese (nome nativo English) è una lingua indoeuropea appartenente al ramo occidentale delle lingue germaniche, assieme all'olandese, all'alto e basso tedesco, al fiammingo e al frisone.
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Raggi X
In fisica i raggi X (o raggi Röntgen) sono quella porzione di spettro elettromagnetico con lunghezza d'onda compresa approssimativamente tra 10 nanometri (nm) e 1/1000 di nanometro (1 picometro).
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Spettrofotometria XRF
La spettrofotometria XRF (X-ray fluorescence spectroscopy o X-ray fluorescence) è una tecnica di analisi non distruttiva che permette di conoscere la composizione elementale di un campione attraverso lo studio della radiazione di fluorescenza X. Tale radiazione è emessa dagli atomi del campione in seguito a eccitazione (che può dare anche effetto fotoelettrico), che si ottiene tipicamente irraggiando il campione con raggi X e gamma ad alta energia; effetti analoghi si hanno utilizzando fasci di ioni.
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Spettroscopia
La misura e lo studio di uno spettro è chiamato spettroscopia.
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Spettroscopia Auger
La spettroscopia Auger o AES, acronimo dell'inglese Auger Electron Spectroscopy, (da non confondere con l'omonimo acronimo inglese della spettroscopia di emissione atomica, Atomic Emission Spectroscopy) è una delle tecniche spettroscopiche di analisi di superficie.
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Spettroscopia di assorbimento
Le spettroscopie di assorbimento sono un insieme di tecniche spettroscopiche.
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Spettroscopia di emissione
Le spettroscopie di emissione o spettroscopie di emissione ottica, indicate certe volte con la sigla OES (dall'inglese optical emission spectroscopy), sono un insieme di tecniche spettroscopiche.
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Spettroscopia di fluorescenza
La spettroscopia di fluorescenza è una tecnica spettroscopica di emissione operante nel campo della radiazione ultravioletta e visibile.
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Spettroscopia EDX
Con il termine spettroscopia EDX (Energy Dispersive X-ray Analysis) o spettroscopia EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) si indica una metodica analitica strumentale che sfrutta l'emissione di raggi X generati da un fascio elettronico accelerato incidente sul campione.
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Spettroscopia EXAFS
La spettroscopia EXAFS (dall'inglese extended X-ray absorption fine structure) è un tipo di spettroscopia XAS.
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Spettroscopia fotoelettronica a raggi X
La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali.
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Spettroscopia NEXAFS
La spettroscopia NEXAFS (dall'inglese Near Edge X-ray Absorption Fine Structure) è un tipo di spettroscopia XAS.
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Spettroscopia XANES
La spettroscopia XANES (dall'inglese X-ray absorption near edge structure) è un tipo di spettroscopia XAS.
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Spettroscopia XAS
La spettroscopia XAS (X-ray Absorption Spectroscopy) studia l'andamento del coefficiente di assorbimento di una sostanza in funzione dell'energia della radiazione incidente nella regione dei raggi X, da prima di una soglia di assorbimento fotoelettrico a circa 1000 eV dopo la soglia.
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