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SIMS statico

Indice SIMS statico

Il SIMS statico, o SSIMS (static secondary ion mass spectrometry) è una tecnica di spettrometria di massa, precisamente di spettrometria di massa a ioni secondari (SIMS).

5 relazioni: FABSSIMS, Sigle in spettrometria di massa, SIMS dinamico, Spettrometria di massa di ioni secondari, Tecniche di ionizzazione per desorbimento.

FABSSIMS

La FABSSIMS (acronimo dell'inglese fast atom bombardment-static secondary mass spectrometry) è una tecnica di ionizzazione impiegata in spettrometria di massa.

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Sigle in spettrometria di massa

Lista di sigle comunemente usate in spettrometria di massa.

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SIMS dinamico

Il SIMS dinamico, indicato con DSIMS (da dynamic secondary ion mass spectrometry) è una tecnica di spettrometria di massa, precisamente di spettrometria di massa a ioni secondari.

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Spettrometria di massa di ioni secondari

La spettrometria di massa di ioni secondari, indicata comunemente con l'acronimo SIMS, dall'inglese secondary ion mass spectrometry è una tecnica di spettrometria di massa utilizzata per la caratterizzazione di superfici.

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Tecniche di ionizzazione per desorbimento

In spettrometria di massa le tecniche di ionizzazione per desorbimento (desorption ionization techniques in lingua inglese) sono delle tecniche di ionizzazione da fase condensata (liquida o solida).

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Riorienta qui:

S-SIMS, SSIMS, Static SIMS, Static secondary ion mass spectrometry.

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