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8 relazioni: Laser, Limite di rivelabilità, Lingua inglese, Polverizzazione catodica, Resa di sputtering, Spettrometria di massa, Spettrometria di massa a ionizzazione a risonanza, Spettrometria di massa di ioni secondari.
Laser
Il laser (acronimo dell'inglese «light amplification by stimulated emission of radiation», in italiano "amplificazione di luce mediante emissione stimolata di radiazione") è un dispositivo in grado di emettere un fascio di luce coerente.
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Limite di rivelabilità
Nell'analisi chimica, il limite di rivelabilità, indicato comunemente con le sigle inglesi DL e LOD (rispettivamente detection limit e limit of detection), è il valore misurato, ottenuto con una procedura di misura assegnata, per il quale la probabilità di dichiarare erroneamente l'assenza di una componente costituente un materiale è β, essendo data la probabilità α di dichiarare erroneamente la sua presenza.
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Lingua inglese
L'inglese (nome nativo English) è una lingua indoeuropea appartenente al ramo occidentale delle lingue germaniche, assieme all'olandese, all'alto e basso tedesco, al fiammingo e al frisone.
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Polverizzazione catodica
La polverizzazione catodica, spruzzamento catodico o vaporizzazione catodica (in inglese sputtering, "spruzzamento") è un processo per il quale si ha emissione di atomi, ioni o frammenti molecolari da un materiale solido detto bersaglio (target) bombardato con un fascio di particelle energetiche (generalmente ioni).
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Resa di sputtering
La resa di sputtering (sputtering yield in inglese) è definita come il numero di atomi erosi dal bersaglio per ogni ione incidente.
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Spettrometria di massa
La spettrometria di massa è una tecnica analitica applicata sia all'identificazione di sostanze sconosciute, sia all'analisi in tracce di sostanze.
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Spettrometria di massa a ionizzazione a risonanza
La spettrometria di massa a ionizzazione a risonanza, comunemente indicata con l'acronimo RIMS (dall'inglese resonance ionization mass spectrometry), è una tecnica di spettrometria di massa a sputtering di neutri basata sulla spettroscopia a ionizzazione a risonanza.
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Spettrometria di massa di ioni secondari
La spettrometria di massa di ioni secondari, indicata comunemente con l'acronimo SIMS, dall'inglese secondary ion mass spectrometry è una tecnica di spettrometria di massa utilizzata per la caratterizzazione di superfici.
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Riorienta qui:
SNMS, Secondary neutral mass spectrometry, Sputtered neutral mass spectrometry.
