l'accesso più veloce di browser!Analogie tra SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari
SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari hanno 9 punti in comune (in Unionpedia): Cesio (elemento chimico), Energia di ionizzazione, Ossigeno, Parti per miliardo, Parti per milione, Pascal (unità di misura), SIMS statico, Spettrometria di massa, Unità di massa atomica.
Cesio (elemento chimico)
Il cesio è l'elemento chimico di numero atomico 55.
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Energia di ionizzazione
L'energia di ionizzazione di un atomo o di una molecola è l'energia minima richiesta per allontanarne un elettrone e portarlo a distanza infinita, a e in condizioni di energia cinetica nulla.
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Ossigeno
L'ossigeno è un elemento chimico della tavola periodica degli elementi.
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Parti per miliardo
Parti per miliardo (ppb, parts per billion) è un'unità di misura corrispondente ad un rapporto di 1 miliardo a 1.
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Parti per milione
Parti per milione (ppm) è una unità di misura adimensionale che indica un rapporto tra quantità misurate omogenee di un milione a uno.
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Pascal (unità di misura)
Il pascal (simbolo: Pa) è un'unità di misura derivata del sistema internazionale (S.I.), utilizzata per misurare lo sforzo e la pressione.
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SIMS statico
Il SIMS statico, o SSIMS (static secondary ion mass spectrometry) è una tecnica di spettrometria di massa, precisamente di spettrometria di massa a ioni secondari (SIMS).
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Spettrometria di massa
La spettrometria di massa è una tecnica analitica applicata sia all'identificazione di sostanze sconosciute, sia all'analisi in tracce di sostanze.
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Unità di massa atomica
L'unità di massa atomica unificata (u) detta anche dalton (Da) è un'unità di misura di massa che non fa parte del Sistema Internazionale di unità di misura, ma è da esso riconosciuta in virtù del largo impiego che ne viene fatto, specialmente in chimica, biochimica e biologia molecolare.
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La lista di cui sopra risponde alle seguenti domande
- In quello che appare come SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari
- Che cosa ha in comune SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari
- Analogie tra SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari
Confronto tra SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari
SIMS dinamico ha 10 relazioni, mentre Spettrometria di massa di ioni secondari ha 54. Come hanno in comune 9, l'indice di Jaccard è 14.06% = 9 / (10 + 54).
Riferimenti
Questo articolo mostra la relazione tra SIMS dinamico e Spettrometria di massa di ioni secondari. Per accedere a ogni articolo dal quale è stato estratto informazioni, visitare:
