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Resistività di superficie

Indice Resistività di superficie

La resistività di superficie, o resistività superficiale, è una grandezza che caratterizza le proprietà di conduzione elettrica, in particolare per campioni bidimensionali o quasibidimensionali, che hanno cioè lo spessore H molto minore della larghezza W e della lunghezza L. Esempi di questi sistemi sono i wafer di semiconduttori, e in generale i film sottili.

10 relazioni: Film sottili, Legge di Ohm, Metodo di van der Pauw, Misura a quattro terminali, Ohm, Resistività elettrica, Semiconduttore, Sistema internazionale di unità di misura, Trasporto di carica elettrica, Wafer (elettronica).

Film sottili

Si definiscono film sottili strati di materiali spessi tra frazioni di nanometri (monostrati) a vari micron di spessore.

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Legge di Ohm

In fisica, la legge di Ohm, il cui nome è dovuto al fisico tedesco Georg Simon Ohm, esprime la legge costitutiva di proporzionalità diretta tra la differenza di potenziale elettrico applicata ai capi di un conduttore e l'intensità della corrente elettrica che lo attraversa.

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Metodo di van der Pauw

Il metodo di van der Pauw è una tecnica usata per la misura della resistività e del coefficiente di Hall di un campione.

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Misura a quattro terminali

La misura a quattro terminali (4T) è una tecnica utilizzata nell'ambito della misurazione e calibrazione delle impedenze elettriche.

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Ohm

L'ohm (simbolo Ω) è l'unità di misura della resistenza elettrica nel Sistema Internazionale.

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Resistività elettrica

La resistività elettrica, anche detta resistenza elettrica specifica, è l'attitudine di un materiale ad opporre resistenza al passaggio delle cariche elettriche.

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Semiconduttore

I semiconduttori sono materiali, appartenenti alla categoria dei semimetalli, che hanno una resistività superiore a quella dei conduttori e inferiore a quella degli isolanti, la cui conducibilità dipende in modo diretto dalla temperatura.

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Sistema internazionale di unità di misura

Il sistema internazionale di unità di misura (in francese: Système international d'unités), abbreviato in SI (pronunciato esse i), è il più diffuso sistema di unità di misura.

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Trasporto di carica elettrica

Nell'ambito dei fenomeni di trasporto, il trasporto di carica elettrica corrisponde al movimento di specie cariche, che possono essere elettroni nel caso dei conduttori elettronici (materiali metallici, semiconduttori e grafite) o ioni nel caso dei conduttori ionici (elettroliti).

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Wafer (elettronica)

In microelettronica, un wafer è una sottile fetta di materiale semiconduttore, come ad esempio un cristallo di silicio, sulla quale vengono costruiti circuiti integrati attraverso drogaggi (con diffusione o impiantazione ionica), la deposizione di sottili strati di vari materiali, conduttori, semiconduttori o isolanti, e la loro incisione fotolitografica.

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