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Costante di reticolo

Indice Costante di reticolo

La costante di reticolo (o parametro di reticolo o parametro di cella o costante cristallografica) è un valore costante che definisce la distanza tra celle unitarie in un reticolo cristallino.

15 relazioni: Ångström, Cella primitiva, Cristallo, Cristallografia, Diffrazione dei raggi X, Fattore di impacchettamento atomico, Lega (metallurgia), Legge di Vegard, Metro, Microscopio a forza atomica, Reticolo di Bravais, Sistema cristallino, Sistema cubico, Sistema esagonale, Sistema internazionale di unità di misura.

Ångström

L'ångström (Å), o angstrom (pronuncia), è un'unità di lunghezza non appartenente al Sistema internazionale (SI) corrispondente a 0,1 nm o 1×10−10 m. L'ångström prende nome dal fisico svedese Anders Jonas Ångström, uno dei padri della spettroscopia.

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Cella primitiva

La cella primitiva (o cella elementare) di un reticolo è definita come il volume che traslato attraverso i vettori che generano il reticolo riempie tutto lo spazio.

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Cristallo

In mineralogia e cristallografia, un cristallo (dal greco κρύσταλλος, krýstallos, ghiaccio) è una struttura solida costituita da atomi, molecole o ioni aventi una disposizione geometricamente regolare, che si ripete indefinitamente nelle tre dimensioni spaziali, detta reticolo cristallino o reticolo di Bravais.

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Cristallografia

La cristallografia (dal greco "krystallos", "ghiaccio" e "graphein", "scrivere") è la scienza che si occupa dello studio dei cristalli.

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Diffrazione dei raggi X

Questo è un pattern di diffrazione di raggi X generato quando i raggi X sono impressi su un materiale cristallino, in questo caso una proteina. Ogni punto, chiamato riflessione, è generato dall'interferenza di raggi X diffusi passanti attraverso il cristallo. La diffrazione dei raggi X è una delle tecniche più importanti per lo studio dei solidi cristallini.

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Fattore di impacchettamento atomico

In cristallografia, con il termine fattore di impaccamento atomico (o fattore di impilaggio o fattore di compattazione atomica o FCA o APF, dall'inglese Atomic packing factor) viene indicata la frazione del volume della struttura cristallina occupata dagli atomi.

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Lega (metallurgia)

Una lega è una combinazione, sia in soluzione o in miscela, di due o di più elementi, di cui almeno uno è un metallo e dove il materiale risultante ha proprietà metalliche differenti da quelle dei relativi componenti.

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Legge di Vegard

In metallurgia e in fisica dello stato solido la legge di Vegard (o regola di Vegard) è una regola empirica approssimata per calcolare la costante di reticolo di una lega.

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Metro

Il metro (simbolo: m, talvolta erroneamente indicato con mt) è l'unità base SI (Sistema internazionale di unità di misura) della lunghezza.

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Microscopio a forza atomica

Il microscopio a forza atomica (spesso abbreviato in AFM, dall'inglese Atomic Force Microscope) è un microscopio a scansione di sonda (SPM) inventato da Gerd Binnig, Calvin Quate e Christoph Gerber nel 1986.

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Reticolo di Bravais

In geometria e in cristallografia, un reticolo cristallino (o "reticolo di Bravais", dal francese Auguste Bravais che per primo lo descrisse nel 1848) è un insieme infinito di punti con una disposizione geometrica sempre uguale in tutto lo spazio.

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Sistema cristallino

In cristallografia, un sistema cristallino è il raggruppamento di più classi di simmetria aventi caratteristiche simili.

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Sistema cubico

Il sistema cubico è uno dei sistemi utilizzati per la classificazione dei minerali sulla base del loro grado di simmetria.

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Sistema esagonale

In cristallografia, il sistema esagonale è uno dei 7 sistemi cristallini, a cui appartiene un singolo reticolo di Bravais: il reticolo esagonale.

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Sistema internazionale di unità di misura

Il sistema internazionale di unità di misura (in francese: Système international d'unités), abbreviato in SI (pronunciato esse i), è il più diffuso sistema di unità di misura.

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Riorienta qui:

Costante cristallografica, Costanti cristallografiche, Costanti di reticolo, Parametri di cella, Parametri di reticolo, Parametro di cella, Parametro di reticolo, Parametro reticolare.

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